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JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则

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发表于 2021-5-7 20:23:34 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准内容
标准编号: JY/T 0582-2020
标准名称: 扫描探针显微镜分析方法通则
英文名称: General rules of analytical methods for the scanning probe microscope
标准状态: 现行
发布日期: 2020-09-29
实施日期: 2020-12-01
标准文本格式: PDF
标准文本页数: 17 页
本标准规定了扫描探针显微镜主要的方法原理、实验材料、仪器、样品及其制备、分析测试、结果报告和安全注意事项。
本标准适用于扫描探针显微镜在大气、液体环境和真空中进行微区形貌、力学、电磁学、热学性能和纳米操纵的分析。

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 31226-2014 扫描隧道显微术测定系统部件表面粗糙度的方法
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法

扫描探针显微镜scanning probe microscope
所有利用尖锐探针机械式地在样品表面进行扫描,能探测样品有关的物理量(隧穿电流、原子间力、摩擦力、磁力等)特性,在微观尺度上表征样品表面形貌及进行力学特性分析的设备总称。
JY∕T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则.rar (1.01 MB, 下载次数: 0, 售价: 58 标准资粒)
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